2013年7月17日，第20屆IEEE國際集成電路物理與失效分析會議(IPFA 2013)在蘇州香格里拉大酒店隆重開幕，華碧檢測作為IPFA大會合作伙伴到場祝賀并與前來參會的業(yè)界新老朋友一起共敘行業(yè)發(fā)展與深厚友誼。
IPFA2013大會由IEEE南京分會主辦，IEEE Reliability/CPMT/ED新加坡分會、蘇州市電子學(xué)會協(xié)辦，由IEEE 電子器件協(xié)會與IEEE可靠性協(xié)會等提供技術(shù)支持，是在中國舉辦的有關(guān)集成電路與器件方面規(guī)模*大、影響*大的國際會議。
本屆大會邀請了中國、美國、歐洲、新加坡、日本及亞太其他各國專家作大會報告和分會邀請報告，是國內(nèi)外微電子領(lǐng)域的研究人員之間交流信息和了解國際、國內(nèi)*新進(jìn)展的一次極佳機(jī)會；華碧將攜其失效分析研究與實(shí)踐的*新成果與心得在本屆大會上分享與交流。
華碧檢測CEO劉學(xué)森先生（左一）與IPFA2013大會主席宋先忠先生（中）等貴賓合影
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